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    產品詳情
    • 產品名稱:X射線鍍層測厚儀 Stark

    • 產品型號:STARK系列
    • 產品廠商:美國ACZET
    • 產品文檔:
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    簡單介紹:
    X射線鍍層測厚儀 AXIOM鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術,該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在極少甚至無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析??煞治龉腆w和液體,元素范圍包括從元素周期表中的21Ti到92U 。 X射線鍍層測厚儀 AXIOM配備超高分辨率的探測器,是檢測超薄鍍層和痕量級元素成分的理想儀器。
    詳情介紹:

     X射線鍍層測厚儀 

    STARK系列用于首飾及合金中的金屬元素分析、金屬鍍層厚度測量專為珠寶首飾行業定制的檢測儀器。

        貴金屬是制造首飾的基礎物質,同時也普遍應用在高技術產業中,如電子和醫藥領域。貴金屬的產品周期包括從礦石開采原材料、通過專門的復雜加工技術成型直到回收處理。

    在制造時尚首飾時,人們往往采用便于加工的材料,如黃銅、鋅合金或鋼。根據視覺的要求,然后再用裝飾性的金屬涂層進行覆蓋。通常使用X射線熒光法可以快速、無損和準確的測量。


    一、功能:


    1、采用X射線熒光光譜法:無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T 16921-2005標準(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。


    2、鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。


    3、可測量厚度范圍:Ti鈦—U鈾


    4、鍍層層數:多至5層。


    5、測量點尺寸:圓形測量點,直徑約0.2-0.8毫米。


    6、測量時間:通常60秒-180秒。


    7、樣品*大尺寸:330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。


    8、測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。


    9、可測厚度范圍:通常0.01微米到30微米,視樣品組成和鍍層結構而定。


    10、同時定量測量8個元素。


    11、定性鑒定材料達20個元素。


    X射線鍍層測厚儀 STARK系列參數

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