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    新聞詳情

    X射線鍍層測厚儀的使用規定

    日期:2021-09-17 17:19
    瀏覽次數:138
    摘要:
     
    X射線鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
    隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
    a 基體金屬特性
    對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
    對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
    b 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
    c 邊緣效應
    不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
    d 曲率
    不應在試件的彎曲表面上測量。
    e 讀數次數
    通常由于儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
    f 表面清潔度
    測量前,應**表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。



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