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    新聞詳情

    X射線鍍層測厚儀磁感應測量原理

    日期:2021-09-29 07:25
    瀏覽次數:146
    摘要:
     
    X射線鍍層測厚儀磁感應測量原理
      X射線鍍層測厚儀采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制測量信號。還采用磚利設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)?,F代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
      X射線鍍層測厚儀磁性原理測厚儀可應用來**測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐涂層。

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